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介紹光耦的熱特性

時(shí)間:2009-07-10 12:24:36來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 作者:admin 點(diǎn)擊:
無(wú)

 

通過(guò)管理芯片和周?chē)諝庵g的熱傳遞,維持光耦特性,避免失效。
  任何半導體設備的動(dòng)作依靠其模型溫度,這就是為什么電子參數要按照特定溫度給出。為維持

光耦特性,避免失效,通過(guò)管理芯片和周?chē)諝庵g的熱傳遞限制溫度。不應該超過(guò)設計規定的連

接溫度,即使光耦也許沒(méi)有被歸入“功率器件”的種類(lèi)。這么做有以下兩個(gè)原因:
  首先,全面增加光耦長(cháng)期可靠性,因為任何固態(tài)設備的工作溫度都與其長(cháng)期可靠性成反比。因

此應該是器件工作在最低的實(shí)際工作溫度下。其次,某些參數與設備的問(wèn)題緊密相連,這些隨溫度

而變得參數包括漏電流、觸發(fā)電流、CTR、驟回電壓和電阻。
  進(jìn)行熱計算的三個(gè)主要方法是通過(guò)使用器件降額值、隨溫度變化功率圖或溫度模型。最簡(jiǎn)單的

方法是使用熱降額值(假定用功率/度)。然而,制造商非常保守的得到這個(gè)數字,所以這個(gè)方法

不能提供最精確的結果。
  隨溫度變化功率圖與第一種方法非常相似,但是用簡(jiǎn)單的數字代替,依照隨溫度變化功率圖(

圖1)。并且,這是一個(gè)非常保守的方法,應該非常顧及可靠的設計,但是它也不能提供最精確的

結果。
 


  進(jìn)行熱計算更全面的方法是使用熱模型。一些光耦的熱模型已經(jīng)建立,

用于大多數簡(jiǎn)單精確的計算。

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