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雙向可控硅的測量(晶閘管測量)

時(shí)間:2009-12-12 21:04:10來(lái)源:網(wǎng)友 作者:admin 點(diǎn)擊:
無(wú)
    1.用指針式萬(wàn)用表電阻檔測量可控硅陽(yáng)極和陰極是否短路,雙向可控硅陽(yáng)極和陰極的電阻在數十千歐,如用萬(wàn)用表測量時(shí)已短路或電阻已小于10千歐以下,可判斷可控硅已擊穿損壞。
    2.用萬(wàn)用表分別測量雙向可控硅觸發(fā)極與陰極的電阻值,再幾歐至百十歐以?xún)鹊恼,觸發(fā)極與陽(yáng)極的電阻值,再十千歐為正常。
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